PRZEDMIOTOWY SYSTEM OCENIANIA Z RYSUNKU GEODEZYJNEGO

(oprac. mgr inż. Andrzej Figura)

DZIAŁ: GEOMETRIA WYKREŚLNA kl. II sem. I.

OCENA:	WYMAGANIA:
DOPUSZCZAJĄCA:	Uczeń zna:złudzenia optyczne,tezy Monge’a,zasady rysowania i opisywania warstwic. Uczeń potrafi;nadać cień w rzutach prostokątnych,rozwiązywać podstawowe zadania konstrukcyjne z geometrii wykreślnej,pomocnicze wykresy geometryczne.
DOSTATECZNA:	Uczeń zna:zasadę rzutów cechowanych,zasady transformacji figur geometrycznych w rzutach Monge’a,sposoby kładu płaszczyzn. Uczeń potrafi:znaleźć punkt przebicia płaszczyzny prostą,rysować warstwice na podstawie rzutów cechowanych,wykonać dowolną metodą kład płaszczyzny.
DOBRA:	Uczeń zna:rodzaje rzutów stosowanych w geometrii wykreślnej,zasady konstruowania rzutów aksonometrycznych. Uczeń potrafi:znaleźć krawędź przecięcia dwóch płaszczyzn,rozwijać bryły obrotowe.
BARDZO DOBRA:	Uczeń potrafi:znaleźć rzut aksonometryczny na podstawie rzutów prostokątnych,znaleźć linię przenikania płaszczyzny z bryłą obrotową.

DZIAŁ: ELEMENTY KARTOGRAFII kl. II sem. II

OCENA:	WYMAGANIA:
DOPUSZCZAJĄCA:	Uczeń zna: pojęcia plan i mapa, geoida i elipsoida ziemska ortodroma, współrzędne geograficzne i kartograficzne, odwzorowanie kartograficzne. Potrafi: obliczyć wymiar łuku jednostopniowego, określić położenie geograficzne punktu, skonstruować trapezową siatkę dla Polski.
DOSTATECZNA:	Uczeń zna: rzuty płaszczyznowe i odwzorowania walcowe, Potrafi: konstruować siatki kartograficzne i rzuty gnomoniczne
DOBRA:	Uczeń zna: zasady badania odkształceń odwzorowań kartograficznych Potrafi: nanosić punkty o określonych współrzędnych geograficznych na siatki kartograficzne w różnych odwzorowaniach.
BARDZO DOBRA:	Uczeń potrafi samodzielnie zaproponować i uzasadnić własne odwzorowanie kartograficzne.

DZIAŁ: POMIARY NA MAPIE kl. III sem. I.

OCENA:	WYMAGANIA:
DOPUSZCZAJĄCA:	Uczeń zna:metody pomiaru długości i powierzchni na mapie. Uczeń potrafi:pomierzyć długość na mapie metodą kroczkowania,pomierzyć powierzchnię przy pomocy kalki milimetrowej,przedstawić ukształtowanie terenu przy pomocy warstwic i pikiet.
DOSTATECZNA:	Uczeń zna:metody pomiaru objętości na mapie batymetrycznej,sytuacyjne mapy zjawisk powierzchniowych i liniowych. Uczeń potrafi:pomierzyć długość na mapie przy pomocy longimetru Steinhausa,pomierzyć powierzchnię na mapie metodą paletki,sporządzić kartodiagram wybranego zjawiska.
DOBRA:	Uczeń zna:podział map ze względu na ich treść i podziałkę,podział map topograficznych na arkusze. Uczeń potrafi:obliczyć objętość mas ziemnych na podstawie powierzchni warstwicowych,przedstawić rzeźbę terenu metodą szrafowania,dokonać analizy stosunków komunikacyjnych przy pomocy izochron i ekwidystantów.
BARDZO DOBRA:	Uczeń potrafi:skalibrować planimetr,dokonć pomiaru powierzchni przy pomocy planimetru biegunowego.

DZIAŁ: TECHNOLOGIA SPORZĄDZANIA MAP kl. III sem. II

OCENA:	WYMAGANIA:
DOPUSZCZAJĄCA:	Uczeń zna: pojęcia mapa sytuacyjno-wysokościowa, mapa wielkoskalowa, ortofotografia, mapa numeryczna, przyrządy do aktualizacji map. Potrafi na podstawie schematu technologicznego określić metodę sporządzania mapy
DOSTATECZNA:	Uczeń zna: schematy technologiczne sporządzania map sytuacyjno wysokościowych metodą kombinowaną oraz uniwersalną, metody opracowania map wielkoskalowych z wykorzystaniem ortofotografii Potrafi: unosić mapę przy pomocy przyrządu Collina i przyrządu LUZ
DOBRA:	Uczeń zna: proces opracowania fotomapy sytuacyjno –wysokościowej metodą kombinowaną, zasady aktualizacji map oraz opracowanie map na podstawie zdjęć naziemnych, przyrządy stosowane do aktualizacji map Potrafi: opracować mapę sytuacyjno – wysokościową metodą kombinowaną i uniwersalną
BARDZO DOBRA:	Uczeń potrafi: opracować mapę sytuacyjno – wysokościową metodą kombinowaną bez udziału pomocniczych podkładów wysokościowych, opracować mapę na podstawie zdjęć naziemnych.